Qəbul imtahanlarında daha bir “ÇP”
İmtahanlarda texnoloji fırıldaqlıq və ya yeni dövrün “şparqalka” problemi… “Ötən ay qəbul imtahana giriş zamanı iştirakçıların üzərlərində komplekt halda xüsusi ötürücü qurğuların (“Mifi” aparatı, mikroqulaqlıq, telefon, kamera və s.) aşkarlanması və bununla bağlı Dövlət İmtahan Mərkəzinin DTX-ya müraciət etməsi haqda xəbər vermişdik. Bildirilirdi ki, qəbul imtahanlarında müsbət nəticə əldə etmək məqsədilə bir sıra abituriyentləri xüsusi gizli texniki avadanlıqlar komplekti (mikroqulaqcıq, mikrokamera, mini telefon, naqil, Mi-Fi routeri və s.) ilə təchiz edən şəbəkə ifşa olunub. sözügedən faktlarla bağlı müvafiq istintaq davam etdirilir. 25-27 iyun tarixlərində mərkəzləşdirilmiş üsulla lisey və gimnaziya imtahanında…
Read More